Hlavní stránka sci.ujep.cz - přírodovědecká fakulta UJEP www.ujep.cz - Univerzita Jana Evangelisty Purkyně www.usti-nl.cz - web Ústí nad Labem

Systém XPS - měření chemického složení povrchů >>

Metoda XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) slouží k určování chemického složení tenkých vrstev. Je vhodným doplněním metody SIMS.

| Poslední změna: 30. 06. 2011 | Mgr. Jindřich Matoušek Ph.D. | Celý článek... |

Počítačový cluster Katedry Fyziky >>

Koncem roku 2005 byl pořízen a sestaven počítačový cluster Enputron, který se skládal z 10 uzlů – stanic IBM eServer 326. Tento cluster byl ke konci roku 2007 významně rozšířen o dalších 14 uzlů - stanic SGI AltixXE 310. V roce 2014 byl pak tento cluster inovován pořízením nového řídícího uzlu Dell 720xd a 7 nových uzlů Dell 720.
| Poslední změna: 14. 03. 2008 | RNDr. Zdeněk Moravec, Ph.D. | Celý článek... |

Systém pro plasmatickou oxidaci tenkých vrstev kovů >>

Na katedře fyziky se podařilo vybudovat aparaturu pro modifikaci tenkých vrstev v nízkoteplotním plazmatu
| Poslední změna: 12. 08. 2006 | doc. RNDr. Jaroslav Pavlík, CSc. | Celý článek... |

Systém SIMS Atomika 3000 na Katedře Fyziky >>

Katedra fyziky PřF UJEP je jedním z mála pracovišť v ČR, které dokáževyhodnocovat parametry tenkých povrchových vrstev pomocí SIMS aparaturyAtomika
| Poslední změna: 11. 08. 2006 | Bc. Tomáš Vágner | Celý článek... |

Tyto stránky běží díky - redakčnímu systému napsanému v jazyce PHP. -